FE3000膜厚仪给您好的建议,苏州大塚电子公司

FE3000反射式膜厚量测仪:产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。

可在软件上设定激发光源的波长及步值，实现自动测量

电流-**效率曲线

电流-光通量曲线

电流-功率曲线

电流-色温曲线

电流-色坐标曲线

电流-显色性曲线

电流-电压曲线

光纤在较度弯曲后会有可能发生断裂。故,请将弯曲半径保持在10cm以上(即:不要过于折叠光纤,以免损坏).将样品放入样品放置cell内，然后放入积分半球内。粉状物用cell用磁铁固定在样品口上（使用温控系统时用无磁铁的夹具固定）。Xe激发光（投光光纤）的照射位置可由积分球上方放置的监控窗口（图上显示）来进行确认。请将激发波长设置到可视光范围内确认。

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

关于冷却水的更换没有特定的时间要求，可目视，发现水有污垢时请更换冷却水。更换时请用自来水或是软水（不可使用纯水，如使用纯水，会和空气中的CO2结合形成酸性环境，从而导致冷却装置内部遭到腐蚀）。