大塚电子(苏州）有限公司

OPTM光学膜测试-苏州大塚电子公司-OPTM

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

膜厚测试仪的此类校准适用于N型测头，并使用特殊的校准标准片。　　·必须使用一试片法。　　·使用标有“铜上镀铬”字样的特殊标准片。　　说明：在温度变化较大的情况下，OPTM光学膜测试，如冬季或盛夏在室外操作时，应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。

为了确保膜厚仪的安全操作，必须注意以下几点：　　·始终按照操作手册的要求操作膜厚仪；　　·不要损坏安全互锁系统的任何元件，例如微动开关等等；　　·不要对膜厚仪做任何改变。

膜厚测试仪测量时间的选择　　测量时间越长稳定度越好，OPTM，一般来说，OPTM膜厚仪，单镀层不小于15秒，OPTM优点，双镀层和合金比例测量时间不少于30秒钟，三镀层测量时间不少于45秒，镀液主离子浓度测量时间在30～60秒之间。