将样品放入粉体样品池,安装在半球体积分球上。粉体样品池通过磁铁被固定在检验板上(温控系统情况下用无磁铁治具固定)。Xe激发光(光投射光纤) 照射在样品表面的位置,QE**效率,可以通过安装在半球体积分球**板上的监视窗口(图中未表示)进行确认。请将激发光波长设定在可见波长范围内并进行确认。将液氮气加热后形成的冷却氮气作为冷却媒体进行温控。在光电元件周围,由于蒸发后的氮气而产生无水分的雾气,需防止结露。为了防止结露,大塚QE,在半球体积分球上安装有排出氮气(请另外准备)的口。
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
为了补正此荧光发光成分,QE,将Xe激发光(光投射光纤)的角度按照图中所示进行设置,将激发光的光点照射在检验板的硫i酸钡(或标准漫反射参考白板)面上进行测试。由此通过积分球内壁产生的漫射光,可以测试并补正被激发的荧光成分。
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降低杂散光的多通道分光光谱仪
产品特点:
波长范围:250nm ~800nm (视光谱仪规格);光谱仪分光元件:全息成像光栅、F=3、f=135mm;波长精度:±0.3 nm;感光元件:电子冷却型CCD影像感测器:感光元件解析能力:1.2nm / pixel;受光光纤石英制光纤、外层金属包覆、固定口径φ12mm