大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
表征光谱仪基本特性的参量有光谱范围、色散率、带宽和分辨本领等。基于干涉原理设计的光谱仪(如法布里-珀罗i干涉仪、傅立叶变换光谱仪)具有很高的色散率和分辨本领,光谱仪,常用于光谱精细结构的分析。
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各种因素对吸收谱带的影响表现为谱带位移、谱带强度的变化、谱带精细结构的出现或消失等。谱带位移包括蓝移(或紫移,hypsochromic shift or blue shift))和红移(bathochromic shift or red shift)。蓝移(或紫移)指吸收峰向短波长移动,MCPD9800光谱仪,红移指吸收峰向长波长移动。吸收峰强度变化包括增色效应(hyperchromic effect)和减色效应(hypochromic effect)。前者指吸收强度增加,后者指吸收强度减小。各种因素对吸收谱带的影响结果总结于右图中。
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产品特点多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。功能丰富的**软体,MCPD光谱仪对比,可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。较适用于低辉度(0.3cd/m2),如萤光、电浆发光等微弱光以及光源、显示器量测。16msec的高速光谱解析。灵活坚固的光纤搭配多元的选配附件,可架设于生产线上、真空环境或嵌入于现有设备中即时性量测。