大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
激光粒度仪的测量原理要求在测试过程中,样品的浓度以样品中颗粒之间相互不发生二次散射为原则,理论上就是要求悬浮液或者空气中颗粒之间的距离为颗粒直径的3倍,进口粒径仪,但是这个要求非常难以掌握,因此在实际的粒度测试中,大塚粒径仪,通过调整遮光比的数值来尽量保证颗粒之间不发生二次散射。
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激光粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试,界连电位测试以及分子量的测试。 该分析仪可在0.3nm-10μm粒度范围内进行粒径测量,粒径仪品牌,-200到200mV间进行界达电位测量。
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激光粒度分析仪原理光在传播中,粒径仪,波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制,以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射,衍射和散射的光能的空间(角度)分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。