FE膜厚仪-FE-苏州大塚电子

电脑装有Windows XP Professional或Windows 7作为操作系统，考虑到网络安全和病毒的防止，将安装诺顿网络安全特i警或诺顿反病毒软件。本程序从安装日开始计算，在连接网络的情况下可维持1年的较i新状态。之后如要更新，请自行购买。   主要测试项目：**效率测定，**效率的激发波长依赖特性，FE3000，发光光谱、反射光谱测定，透过、吸收光谱测量，大塚FE3000，PL激发光谱，颜色演算（色度、色温、演色性等）

FE3000反射式膜厚量测仪:产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。

可在软件上设定激发光源的波长及步值，实现自动测量

电流-**效率曲线

电流-光通量曲线

电流-功率曲线

电流-色温曲线

电流-色坐标曲线

电流-显色性曲线

电流-电压曲线

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

半积分球。大塚电子*有**，FE，提高积分球测试效率一倍，更易于样品的装夹，切换*（世界范围内*i家）；(2)多次激发修正。大塚电子*有**，较i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发， 对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内*i家）；(3)光谱可扩展， 光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升级配备控温系统（-30℃-300℃）