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　膜厚仪较直接的镀膜操纵方法是石英晶体微量平衡法(QCM)，膜厚仪生产商，此法可以直接驱动蒸发祥，通过PID控制循环驱动挡板，保持蒸发速率。只有将仪器与系统控制软件相连接，它就可能节制全体的镀膜进程。然而QCM的正确度是有限的，部分起因是由于它监控的是被镀膜的质量而不是其光学厚度。此外诚然QCM在较低温度下无比牢固，但温度较高时，膜厚仪哪家好，它会变得对温度非常敏感。在长时间的加热过程中，很难制止传感器跌入这个敏感区域，从而对膜层造成重大误差。

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为什么膜厚仪有时测量不准确?

人为因素。这种情况经常会发生在新用户的身上。膜厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，膜厚仪，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，膜厚仪报价，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。