FE膜厚仪-FE-苏州大塚电子

FE3000反射式膜厚量测仪:主要测试项目：**效率测定，**效率的激发波长依赖特性，FE，发光光谱、反射光谱测定，FE-3000，透过、吸收光谱测量，PL激发光谱，FE3000厂家，颜色演算（色度、色温、演色性等）利用二次激发荧光校正功能去除再激发荧光发光。

解析非线性较i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/较适化法

基板解析/里面反射补正/各类nk解析模型式

绝i对反射率/解析结果Fitting/折射率n的波长相关性/消光系数k的波长相关性

3D显示功能（面内膜厚分布、鸟窥图、等高线、断面图）

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

关于冷却水的更换没有特定的时间要求，可目视，发现水有污垢时请更换冷却水。更换时请用自来水或是软水（不可使用纯水，如使用纯水，会和空气中的CO2结合形成酸性环境，从而导致冷却装置内部遭到腐蚀）。

本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行**效率测试的系统。

     原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。

光纤在较度弯曲后会有可能发生断裂。故，FE膜厚仪，请将弯曲半径保持在10cm以上(即:不要过于折叠光纤，以免损坏).将样品放入样品放置cell内，然后放入积分半球内。