FE3000膜厚仪-大塚电子(在线咨询)-FE

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

  下图为积分半球光学系统。投光光纤和采光光纤的安装位置、半球/**积分球的种类会与实际情况有所不同。(本次系统采用的是积分半球)。

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产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。

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半积分球。大塚电子*有**，FE3000膜厚仪，提高积分球测试效率一倍，FE3000设备，更易于样品的装夹，FE，切换*（世界范围内*i家）；(2)多次激发修正。大塚电子*有**，较i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发， 对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内*i家）；(3)光谱可扩展， 光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升级配备控温系统（-30℃-300℃）